HORIBA堀場集團向各行業領域提供高品質的分析與測試儀器，49家分公司遍布全球27個國家。 

我們的業務涉及汽車測試、科學儀器、過程和環境儀器、體外診斷和半導體儀器等。我們已在全球市場展示出自己的優勢，尤其在汽車排放和煙道氣測量、空氣污染、水污染監控、不同行業的質控以及臨床診斷等領域。過去幾年來，我們取得了長足發展。讓我們感到高興和自豪的是，我們的分析和測量業務為全球的環保、**和健康事業做出貢獻，并為解決能源問題助一臂之力。我認為正是這種自豪感促使我們提供更具競爭力的產品。 

擁有自豪感和勇于挑戰的精神，以充沛的體力和激情投入到工作中去，譜寫一個更加令人滿意的人生。我們將更加快樂過好每**的愿望融入企業哲學，這一精神自企業創建以來一直代代相傳。遍布全球的大約7,000名堀場人（這樣稱呼的原因是我們把堀場集團的所有員工都看成是一家人）是我們企業發展的源泉，他們能夠正確理解“新奇、有趣”這一企業哲學，并在日常工作和生活中很好地貫徹。 

我們將一如既往地以自豪的態度和勇于迎接挑戰的精神為社會做出貢獻。 

X射線熒光光譜儀（XRF）

HORIBA’s XGT系統提供了高性能的能量色散X射線熒光分析（EDXRF）。**XGT(X射線導管)技術（**號：JPWO2018110260;國際**分類 G01N 23/223） 結合傳統的X射線熒光分析技術實現了對微區的分析，X射線導管尺寸直徑從3mm到*小的10μm保證了分析靈活性，可以進行定性和定量分析，也可以對單個微觀顆粒進行分析，同時成像功能提供了元素分布的細節圖像。

受益于 HORIBA的X射線熒光技術的應用包括法醫學、地質學、材料、生物學/醫學、電子學、考古學、發動機磨損分析、制藥和 RoHS/ELV 合規性測試。

X射線熒光光譜儀（XRF）：XGT-9000微區X射線熒光分析儀//MESA-50

X 射線熒光分析儀//MESA-50KX射線熒光分析儀

國內總代原裝進口華東總辦事處日本HORIBA堀場微區X射線熒光分析儀XGT-9000 國內各區域均有售

速度和靈活性兼備是微區 X 射線熒光光譜的發展方向

• <15μm 超高強度X射線頭，兼具高靈敏度和高空間分辨率
• 高分辨相機和多種照明模式成像
• 雙檢測器！熒光X射線檢測器和透射X射線檢測器
• 輕元素檢測器使元素檢測范圍下延到C元素

XGT-9000是如何保證高性能下的速度和靈活性

激發系統 XGT-9000 以其精心設計的激發系統保證**性能和靈活性，X射線發生器具有高達 50 kV 和 1000 μA 的高輸出。 此外可以通過我們多樣化的X射線頭提供多種尺寸（10μm - 1.2mm）的激發用初級 X 射線，其中就包括超高強度X射線頭（probe），以實現快速測量。
光學圖像 抓取清晰的圖像對于微區XRF至關重要，XGT-9000 提供高分辨率相機，可以獲取整個樣品及其細節顯微鏡水平的圖像。同時，多種照明模式保證圖像的清晰度，即便是透明或有較強反射的樣品。
樣品倉 XGT-9000 樣品倉可容納各種樣品，包括微型碎片、印刷電路板、硬幣、薄片、粉末、液體、晶圓，并根據需求提供各種樣品架，此外*多可以選擇 4 種測量環境來提高靈敏度。
檢測器 XGT 9000提供透射和熒光X射線雙探測器，透射X射線檢測器使用戶能夠檢測樣品的內部缺陷和異物，而熒光X射線檢測器（配置輕元素檢測器）檢測范圍可從C到Am。
軟件套件 功能強大的XGT 9000 軟件，包括**完整的基本測試功能，如單點測試、多點測試、線分析和Mapping測試等。除了基本測試功能外，還可以在軟件套件中添加**模塊，以提供更豐富的用戶體驗。 多層FPM模塊可以進行厚度測試，有無標樣都可以進行 RoHS檢測模塊用于RoHS要求的有害元素篩查 隊列模塊自動進行多區域自動測試 顆粒搜尋模塊可以進行顆粒分析以及原位分析 LabSpec Link模塊，將數據導入到LabSpec 6以進行多變量分析

型號	XGT-9000	XGT-9000SL
基本信息
儀器	微區X射線熒光分析儀
樣品類型	固體、液體、顆粒
檢測元素	輕元素檢測器：C* – Am (常規檢測器：F – Am)
樣品倉尺寸	450(W) x 500(D) x 80(H)	1030(W) x 950(D) x 500(H)
*大樣品尺寸	300(W) x 250(D) x 80(H)	500(W) x 500(D) x 500(H)
樣品*大質量	1 kg	10 kg
光學觀察	兩個帶物鏡的高分辨率相機
光學設計	垂直同軸 X 射線和光學觀察
樣品照明/觀察	頂部、底部和側向照明/明場和暗場
X-射線管
功率	50 W
電壓	*高50 kV
電流	*大1 mA
靶材	Rh
X射線光光學系統
X射線頭數量	*多配置四個
光譜優化初級X-射線濾光片	5個位置
檢測器
熒光X-射線檢測器	硅漂移檢測器（SDD）
透射X射線檢測器	NaI(Tl)
掃描分析
掃描范圍	100 mm x 100 mm	350 mm x 350 mm
步進尺寸	2 mm	4 mm
Operating mode
樣品環境	全真空/局部真空/大氣環境/He吹掃（選配）	局部真空/大氣環境/He吹掃（選配）*He吹掃條件對于兩個檢測器都檢測到C和F是必要的。

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Dimensions (unit: mm)