● nanoSAQLA是一臺通過動態光散亂法（DLS法）測量粒徑（粒徑0.6nm~10um）的裝置。支持從稀薄到濃厚系廣泛濃度范圍內的多檢體測定的新光學系統，實現了實驗室必需的輕量、小型化、標準1分鐘的高速測定。 另外，這是一款非浸泡型、不受接觸器影響、無需自動取樣器、標準配備“5檢體連續測量”的新產品。
產品信息
特長
● 1臺便可實再5個樣品的連續測量
實現了在沒有自動取樣器的情況下難以連續測量的多個樣品
可以改變每個樣品的條件進行測量
● 可以對應從稀薄到濃厚的樣品
● 標準測量時間1分的高度測量
自動調整從濃厚系到稀薄系樣品的*佳測量位置，實現約1分鐘的高速測量
● 配備簡單測量功能(點擊一鍵即可開始測量)
沒有任何復雜的操作，簡單易懂的軟件
● 因為每個樣品槽都是獨立的，沒有接觸污染的風險。
● 搭載溫度梯度功能
測量范圍（理論值）
● 粒徑0.6nm～10μm
● 濃度范圍 0.00001～40％
● 溫度范圍0～90℃*
規格
*1 本設備劃分在激光**基準（JIS C 6802）的等級內。
*2 Latex120nm：0.00001 ～ 10％、牛黃膽酸：～40%
*3 標準glass cell的批量測量的情況。
一次性cell或連續測量時， 15 ～ 40℃ （不對應溫度梯度）
*4 選配功能
關于測量儀器
「作為分光測量的領軍者，我們引以為豪的是不斷進取，從光源、照明、材料膜厚測量，一直發展到探索新的領域。
在1980年代初期，自動記錄光度計作為分光測量中不可或缺的主流，采用的是通過信號條移動光柵的機制。當時擁有獨特產品特長的大塚電子公司，采用了同時期*先進技術——光電二極管陣列作為傳感器，并在光學系統中使用光纖，通過計算機控制，創造出了具有劃時代意義的分光分析裝置「多通道分光光譜儀(MCPD)」，給科學測量設備行業注入了新風。
由于MCPD是一個全新概念的檢測器，因此剛開始時被限制在大學和先進的研究部門中使用。
但是，我們引入了數字技術來替代傳統的模擬技術，進行了軟件開發和應用開發，以滿足客戶的需求，并建立了相應技術。不久之后，新概念的價值得到了理解，并被采納于電子及其他許多行業中，我們提供的系統可以覆蓋從研究開發、生產線、質量管理等廣泛領域。現在，MCPD是大塚電子光測量設備的核心。
以MCPD為基礎開發的產品中，例如膜厚測量設備，可在處理半導體晶圓上生成的膜的同時進行測量，以及在生產線上測量食品包裝用薄膜的膜厚的設備等。在其他領域中，還有評估光源本身的如LED和車前燈等裝置的設備，以及液晶電視和平板電腦用零部件的評估設備，以及用于顯示器生產線的評估設備等。
分光測量業務將持續不斷地向小型檢測器添加不同的新技術，不斷開發高精度、高靈敏度、易于使用的設備，以滿足各種領域的需求。